在各種電子產品泛濫，競爭激烈的今天，產品外形與產品質量是消費者的重點考慮因素。超薄型電子產品越來越多，各種保護外殼（如手機外殼、手機保護套、筆記本電腦外殼、硬盤外殼等）應運而生。這些外殼在裝飾了電子產品的同時也起到了的美化及散熱作用。

    手機/電腦/硬盤外殼的平面度的檢測，傳統的測量方式時采用千分尺手動檢測，這種方法不僅消耗了大量的人工，而且精確度很低，人工測量帶有主觀性誤差，同時由于采用接觸式測量容易劃傷產品。針對這一問題，海科思推出多鏡頭聯動手機外殼檢測儀。

   手機外殼平面度檢測儀是由廣電檢測系統、X軸與Y軸二維移動系統、人機交換系統等幾部分構成的光、機、點、控一體化的檢測系統。手機外殼平面度測量儀用用了陷阱的光路與激光聯動技術，配置有高精度CCD影像和高精度的日本鐳射測頭系統，采用激光非接觸測量，避免與工件接觸造成劃傷損壞。

    此外，針對手機外殼外觀尺寸的檢測，海科思有手機外殼測量儀。手機外殼測量儀采用我司首創的專利技術之一——多鏡頭聯動高精度高速測量系統，其利用多個鏡頭同時拍照，并以光罩技術量測出被測量物的具體尺寸，能在1秒內進行多尺寸的高精度快速測量，并自動顯示產品是否合格，為各大產家節省大量用工成本，并大大提高了工作效率，此技術已廣泛應用在多家國內外大廠所定制的專用測量設備中。

   了解設備詳情，請致電海科思：400-0528-668