小零件平面度誤差測(cè)量的一種新方法
小零件平面度誤差測(cè)量的一種新方法
由于在一些特殊環(huán)境中所使用的精密小零件對(duì)其平面度誤差要求嚴(yán)格, 針對(duì)這種特殊小零件的平
面度誤差測(cè)量,提出了采用高精度激光位移傳感器, 自動(dòng)連續(xù)多點(diǎn)對(duì)小零件的平面進(jìn)行測(cè)量, 利用遺傳算法進(jìn)
行數(shù)據(jù)處理, 從而得到小零件的平面度誤差值。
平面度誤差是指包容一個(gè)平面實(shí)際輪廓的兩個(gè)平行平面的小距離。如圖2 所示, t 即為圖中所
示平面的平面度誤差值。
遺傳算法平面度測(cè)量的實(shí)現(xiàn)涉及到5個(gè)主要因素:參數(shù)的編碼、初始群體的設(shè)定、評(píng)估函數(shù)即適應(yīng)
度函數(shù)的設(shè)計(jì)、遺傳操作(選擇、交叉和變異)的設(shè)計(jì)和算法控制參數(shù)的設(shè)定。
這種基于遺傳基因算法的小零件表面平面度測(cè)量方法, 簡(jiǎn)化了平面度測(cè)量過(guò)程, 實(shí)現(xiàn)了平面度測(cè)
量的自動(dòng)化。遺傳算法的使用, 使得數(shù)據(jù)處理過(guò)程更為簡(jiǎn)單, 計(jì)算得到的平面度誤差值更為精確。這種平面
的檢定, 滿足現(xiàn)代平面度測(cè)量的要求。
此文關(guān)鍵字：影像測(cè)量?jī)x 平面度測(cè)量?jī)x 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 檢測(cè)設(shè)備定制 激光掃描機(jī)、二次元測(cè)量?jī)x、三次元測(cè)量?jī)x、玻璃測(cè)量?jī)x、鐘表測(cè)量?jī)x、五金測(cè)量?jī)x、壓鑄件測(cè)量?jī)x、平整度測(cè)量?jī)x、
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